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videoXtens 1-270

고연신용 비접촉식 변형률 측정 다운로드
최대 측정 범위
  • 140 mm
온도 범위
  • 상온
  • 최대 250°C
시험 유형 + 가로 길이 변화
  • 인장, 압축, 굴곡 시험
  • 반복 시험
  • 폭 변화 측정
  • 변형률 분포
  • Test Re-Run
  • 2D 도트 매트릭스
재료
  • 고무
  • 고무류
  • 필름
  • 로프/섬유
  • 더 보기

고연신 재료용 videoXtens 1-270 HP

videoXtens 1-270은 광범위한 측정 범위를 포함하기 때문에 초기 표점 거리가 긴 고연신 재료나 시편에 사용하기에 적합합니다.

  • 휘핑(whipping)에 취약한 시편이나 파괴 에너지가 높은 시편도 videoXtens를 손상시키지 않고 파괴 시까지 시험할 수 있습니다.
  • 최소한의 작업자 영향 및 쉬운 작동: 전체 시스템이 이 응용 분야에 최적으로 구성되었습니다. 추가적인 렌즈 조정이 필요하지 않고 크기 설정이 유지됩니다.
  • 특별함: 크로스 헤드 연결을 통해 표점 마크가 항상 자동으로 시야의 중간에 위치하고, 측정 범위를 최적으로 활용합니다. 측정 길이 밖으로 확장해도 측정 범위를 제한하지 않습니다. 시편 그립으로 인한 사각 지대가 없습니다.

일반 응용 분야 videoXtens 1-270

일반 응용 분야 videoXtens 1-270

ISO 37, ASTM D412 또는 DIN 53504에 따른 고무류 시험
로프 시험(섬유)
ISO 527-3에 따른 필름 시험

ISO 37, ASTM D412 또는 DIN 53504에 따른 고무류 시험

  • L0 = 10, 20 또는 25mm.

응용 분야에서의 특정 이점

  • 크로스 헤드에 연결하면 표점 마크가 항상 중앙에 위치하고 측정 범위가 최적으로 사용됩니다.
  • 시편 시야에 대한 방해요소가 없음: videoXtens가 중앙에 정렬되고 추적되기 때문에 시편 그립으로 인한 사각 지대가 없습니다.
  • 정확도 등급 1: 초기 측정 범위에서 계수값도 측정할 수 있습니다(예: 변형률 10%에서의 응력).
  • 광범위한 측정 범위.
  • 휘핑에 취약한 시편을 신율계 손상 없이 시험할 수 있습니다.
  • 비접촉식으로 시험하기 때문에 민감한 시편에 받침날에 의한 영향이 없습니다.
  • -55 ~ +250°C 범위의 ZwickRoell 온도 챔버를 사용하는 온도에서도 높은 정확도를 유지합니다.
  • 터널 연결은 온도 챔버 시험을 위해 시스템을 폐쇄 상태로 유지합니다.

로프 시험(섬유)

이 응용 분야에서의 특정 이점

  • 크로스 헤드에 연결하면 표점 마크가 항상 중앙에 오고 측정 범위가 최적으로 사용됩니다.
  • 시편 시야에 대한 방해요소 없음, 시편 그립으로 인한 사각 지대 없음, videoXtens가 중앙에 정렬 및 추적됨.
  • 정확도 등급 1: 초기 범위에서 계수값도 측정할 수 있습니다(예: 변형률 10%에서의 응력).
  • 광범위한 측정 범위.
  • 파단 시 시편이 휘핑되고 접촉식 시스템을 손상시킬 수 있습니다.
  • 민감한 시편이 칼날의 영향을 받지 않습니다. - 비접촉식 시험.
  • -55 ~ +250°C 범위의 ZwickRoell 온도 챔버를 사용하는 온도의 경우를 포함하여 높은 정확도를 유지합니다.
  • 밀폐형 시스템 - 온도 챔버에서 시험할 경우 터널을 통해 연결.

ISO 527-3에 따른 필름 시험

이 응용 분야에서의 특정 이점

  • 정확도 등급 1(최소 측정 거리 0.24mm부터)로서 초기 범위에서도 모듈을 측정할 수 있습니다.
  • 민감한 시편이 칼날의 영향을 받지 않습니다. - 비접촉식 시험.
  • 패턴 인식: 점각이나 스탬핑으로 전체 시편에 패턴이 빠르게 생성됩니다.
  • 크로스 헤드에 연결하면 표점 마크가 항상 자동으로 중앙에 오고 넓은 측정 범위가 최적으로 사용됩니다.
  • 시험 중 필름 시편의 유출이 측정 범위를 제한하지 않으므로 허용할 필요가 없습니다.
  • 연구 시간 절약: L0 외부 파손으로 인한 시편 낭비가 없습니다. Test Re-Run 옵션과 패턴 인식을 통해 L0을 소급하여 조절할 수 있고, 파손이 L0 내부에 오도록 시험을 재계산할 수 있습니다. 대안: 이 옵션에 포함된 변형률 분포는 여러 표점 마크가 시험 이전에 배치된 경우 L0을 자동으로 최대 변형률 구역 주변에 배치시킵니다.

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